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關于光纖連接器壽命測試的常用影響分析

時間:2022-04-06 編輯:佚名 點擊:

光纖連接器進行壽命測試,以確保跳線組件能夠承受85°C或125°C以下的溫度,并加速跳線組件的老化影響,其中包括六個部分:

1,光纖連接器的熱老化測試,內(nèi)容:產(chǎn)品運輸和儲存過程中所有可能事件的模擬和加速。 在規(guī)定時間內(nèi),對被測器件進行熱氧試驗,以檢查其可靠性。 要求:將連接器連續(xù)7天暴露在85℃的溫度和無控制的濕度中。

2,光纖連接器的熱循環(huán)試驗,包括溫度在很大范圍內(nèi)的波動----極熱和極冷----以及對樣品施加重壓和細菌以檢查其合格性。 三、連接器測試及結(jié)果:測量并記錄各部分溫升曲線;用光學顯微鏡觀察試樣表面情況。四、冷卻方法:把試件放入裝有冷卻劑的水槽中進行降溫處理。五、數(shù)據(jù)記錄。 要求:在3小時內(nèi)將連接器的環(huán)境溫度下降115攝氏度(75攝氏度至-40攝氏度)。

3,光纖連接器濕度老化測試。內(nèi)容:將水分引入連接器并確定水分對試樣的影響。 試驗時必須保證連接器內(nèi)部不含水份,且干燥均勻;同時還要防止空氣進入連接器內(nèi)部,以確保產(chǎn)品性能和質(zhì)量。試驗方法:采用標準試片進行實驗。1.試樣準備。2。 要求:在7575下將連接器暴露在95%RH相對濕度下168小時(7天)。

4,光纖連接器濕度的水汽/冷凝循環(huán)測試試驗內(nèi)容:檢查水快速過渡時,水對連接器的作用。 如果連接器組件中的水分子凍結(jié)或蒸發(fā),適配器內(nèi)部連接器之間的物理接觸可能會出現(xiàn)““間隙””。 為了解決這個問題,我們在適配器上安裝了一個傳感器和一個溫度傳感器。該裝置可用于測量不同環(huán)境中的連接器的接觸壓力變化。 要求:溫度溫度循環(huán)-10°C至+65℃,RH90%至100%,168小時(7天),14個周期。

5,光纖連接器的干燥步驟試驗,內(nèi)容:前最后階段的環(huán)境測試. 將一個或多個具有不同直徑和長度的連接器插入到一個干燥室內(nèi),以使它們保持適當?shù)臏囟取H缓笸ㄟ^加熱空氣來對連接器表面施加一預定壓力。同時測量其表面張力。 清除先前進行的濕度/冷凝循環(huán)測試中可能殘留的水分。 要求:冷凝熱循環(huán)前,在75°C干燥24小時(1天)。

6,光纖連接器冷凝后熱循環(huán)試驗,內(nèi)容:與以前進行的熱循環(huán)相似。 在濕度/冷凝循環(huán)中,連接器可能發(fā)生的變化通常在冷凝去除后很明顯,并可能影響連接器的損耗和/或反射率。 因此,需要對這些變化進行檢測并記錄下它們。 要求:在干燥步驟后進行。

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